一、XRF-2000L X射線鍍層測厚儀型號規格如下圖:
二、產品功能：
1、采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材！
1、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金，鉻，鋅鎳合金等。
2、鍍層層數：可測5層。
3、測量產品位置尺寸：標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)
4、測量時間：通常15秒。
5、H型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。
6、L型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。
7、測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
8、可測厚度范圍：通常0.01微米到60微米
三、XRF-2020測厚儀X-RAY電鍍膜厚測量儀功能
- 測量方法：通過CCD鏡頭觀察樣品倉；
- 電鍍層膜厚,測量電鍍層厚度；
- 測量金,鎳,銀,錫,鋅,銅,鋅鎳合金等電鍍層厚度；
- 單鍍層,雙鍍層,多鍍層,鋅鎳合金鍍層均可以測量；
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