X射線鍍層測厚儀韓國XRF-2020膜厚測量儀

方法：

通過CCD鏡頭觀察樣品倉

測量金,鎳,銀,錫,鋅,銅,鋅鎳合金等電鍍層厚度

XRF-2020膜厚測量儀適應

電鍍生產企業,產品來料檢測:半導體五金端子連接器銅排等膜厚測量。

XRF電鍍層測厚儀韓國微先鋒膜厚儀

(Micro pioneer XRF-2020/XRF-2000)

可測

單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層

鍍銀測量范圍0.1-50um

鍍鎳測量范圍0.5-30um

鍍銅測量范圍0.5-30um

鍍錫測量范圍0.5-50um

鍍金測量范圍0.02-6um

鍍鋅測量范圍1-30um

鋅鎳合金測量范圍1-25um

鍍鉻測量范圍0.5-25um

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

X射線鍍層測厚儀韓國XRF-2020膜厚測量儀特點:

全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量

儀器全系均為全自動臺，自動雷射對焦！

多點自動測量

可配

多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

快速無損測量：

電鍍層厚度,可測單鍍層,雙鍍層,多層鍍層及合金鍍層