X射線熒光測厚儀韓國XRF-2020

X射線或粒子射線經物質照射后

由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。

從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。

熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析

XRF-2020鍍層測厚儀型號如下圖

L型：測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

XRF-2020鍍層測厚儀

原產地：韓國

品牌：Micropioneer微先鋒

型號：XRF-2020

儀器整機原裝進口,配置全自動臺面，自動雷射對焦,多實現多點自動測量!

適應于各類五金電鍍,電子連接器端子等。

可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。

應用廣泛，適應電鍍生產企業，產品來料檢測等。

XRF-2020測厚儀

儀器特點:

全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量

功能及應用：

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

X-射線測厚儀韓國XRF-2020

測量精度：

表層：±5%以內，第二層：±10%以內，第三層：±15%以內

儀器整機原裝進口，配置全自動臺面，自動雷射對焦,多實現多點自動測量